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光纖微裂紋檢測儀以白光干涉為原理,最初受限于延時纖的測量長度只能測試6cm,使得測試場景非常局限。經過3年多的技術鉆研,在剛剛過去的2022年里,東隆科技研發工程師們攻克了這個難關,在光纖測量長度上實現了二連跳,1月測量長度從最初的6cm升級至12cm,10月測量長度從12cm升級至40cm。到了2023年年初,光纖微裂紋檢測儀測量長度直接升級至1m,快速實現三級跳。然而我們每一次的系統技術優化升級,都是為用戶提供更好的產品和服務體驗。
本次,光纖微裂紋檢測儀測量長度升級到1m,不僅為用戶解決匹配跳線、測試繁瑣等問題。而且還能更大限度的包容待測樣品,并為測試器件留有更大空間,讓用戶使用起來更便捷。此外,在設備測試性能和穩定性也有了質的飛躍,在升級長度過程中,會不斷迭代已有的光路和模塊,進行長時間的實驗驗證,以優化的結構,提升設備測試效果為目的。
下圖為光纖微裂紋檢測儀測量保偏光鏈路,該器件長0.955m,末端是保偏光纖,OLI能測試出由保偏光纖雙折射引起的2個不同時延峰值。OLI以1μm的采樣分辨率能清晰判別出鏈路中光模塊的好壞以及光纖裂紋檢測。
保偏光鏈路測試圖
東隆科技推出的光纖微裂紋檢測儀叫做低成本光學鏈路診斷系統(OLI),該系統通過讀取最終干涉曲線的峰值大小,精確測量整個掃描范圍內的回波損耗, 進而判斷此測量范圍內鏈路的性能,其事件點定位精度高達幾十微米,最小可探測到-80dB光學弱信號, 廣泛用于光纖或光器件損傷檢測以及產品批量出貨合格判定。
低成本光學鏈路診斷系統(OLI)
產品特點
? 1μm采樣分辨率
? -80dB動態范圍
? 1m測量長度
產品應用
? 光纖微裂紋檢測
? 硅光芯片、PLC波導瑕疵損耗檢測
? FA光纖陣列鏈路性能檢測
? 光器件、光模塊內部耦合點、連接點性能檢測