OLI是一款低成本高精度光學鏈路診斷系統。其原理基于光學相干檢測技術，利用白光的低相干性可實現光纖鏈路或光學器件的微損傷檢測。通過讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測量整個掃描范圍內的回波損耗，進而判斷此測量范圍內鏈路的性能。
該系統輕松查找并精準定位器件內部斷點、微損傷點以及鏈路連接點。其事件點定位精度高達幾十微米，可探測到-80dB光學弱信號，廣泛用于光纖或光器件損傷檢測以及產品批量出貨合格判定。
特點：
超高采樣分辨率和定位精度
采樣分辨率1 μm
回損測量范圍-10 dB~90 dB
可定制引纖長度，便于匹配實際測量環境
可定制掃描測量長度
支持多通道測量升級
應用：
光纖微裂紋檢測
硅光芯片、PLC波導瑕疵損耗檢測
FA光纖陣列鏈路性能檢測
光器件、光模塊內部耦合點、連接點性能檢測
光纖微裂紋檢測儀的參數：
主要參數 | ||
基礎參數 | ||
工作波長1 | 1290~1330/1530~1570 | nm |
測量長度2 | 6 12 45 90 | cm |
采樣分辨率 | 1 | μm |
定位精度 | 0.3 | mm |
測量時間3 | <10s <30s | s |
回損測量范圍 | -20~-100 | dB |
回損重復精度 | ±3 | dB |
硬件 | ||
輸入電壓 | AC 220/110V；DC 12V | - |
主機功率 | 60 | w |
通訊接口 | USB | - |
引纖長度4 | 1 | m |
光纖接口 | FC/APC | - |
尺寸 | W 345 * D 390 * H 165 | mm |
重量 | 7.5 | kg |
儲藏溫度 | 0~50 | ℃ |
工作溫度 | 0~40 | ℃ |
工作濕度 | 10~70 | %RH |
備注： 1.可選其它波段； 2.可定制其他長度；3.測量時間與測試長度相關 4.引纖長度可定制。
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